探针卡(probe card)是半导体工艺过程中晶圆测试(wafer test)中被测芯片(chip)和测试机之间的接口,其使用原理是将探针卡上的探针与芯片上的焊垫(pad)或凸块(bump)直接接触,导出芯片讯号。再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化量测晶圆。
拉斯维加斯3499官网版游戏特色app
组织架构
发展历程
资质荣誉
联系我们
民用通信
检测整机
自服整机
科技服务
智能制造
技术中心
创新技术
人才战略
社会招聘
校园招聘